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Buscar por Autor Jose F Portoles
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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2017 | In situ ion beam sputter deposition and X‐ray photoelectron spectroscopy (XPS) of multiple thin layers under computer control for combinatorial materials synthesis | Artículo | Thomas A. Wilson; Anders J. Barlow; Michael L. Foster; MARIELA BRAVO SANCHEZ; Jose F Portoles; Naoko Sano; Peter J. Cumpson; Ian W. Fletcher | 26-ene-2021 |
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