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Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2011 | Effect of an electric field within microscopy focused ion beam (FIB) between manipulator sharp and the ion trap of the electron detector | Artículo | Jorge Alberto Gómez; Antonino Pérez Hernández; José Alberto Duarte Moller | 23-may-2019 |
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