Buscar
Resultados 1-1 de 1.
- Anterior
- 1
- Siguiente
Resultados por ítem:
Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
---|---|---|---|---|
2011 | Effect of an electric field within microscopy focused ion beam (FIB) between manipulator sharp and the ion trap of the electron detector | Artículo | Jorge Alberto Gómez; Antonino Pérez Hernández; José Alberto Duarte Moller | 23-may-2019 |